Laboratory EXAFS using photographic method
نویسندگان
چکیده
منابع مشابه
An Exafs Study of Photographic Development in Thermographic Films
Silver K edge extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) spectroscopy of films containing silver behenate (AgBeh) in the unprocessed, fully processed, and step-processed states has been performed. The results of the EXAFS analysis indicate that the intensity for the real-space peak for the Ag-O distance (~2.3 Å) decreases while the real-space peak for the AgAg distance (~2.9 Å) grows with...
متن کاملbuckling of viscoelastic composite plates using the finite strip method
در سال های اخیر، تقاضای استفاده از تئوری خطی ویسکوالاستیسیته بیشتر شده است. با افزایش استفاده از کامپوزیت های پیشرفته در صنایع هوایی و همچنین استفاده روزافزون از مواد پلیمری، اهمیت روش های دقیق طراحی و تحلیل چنین ساختارهایی بیشتر شده است. این مواد جدید از خودشان رفتارهای مکانیکی ارائه می دهند که با تئوری های الاستیسیته و ویسکوزیته، نمی توان آن ها را توصیف کرد. این مواد، خواص ویسکوالاستیک دارند....
Interface Exafs Using Glancing Angles
The use of glancing angles to obtain EXAFS s igna ls from th in i n t e r f a c i a l regions is described. The technique is appl icable to the case of a l i g h t overlayer on a heavy subs t ra te f o r which t o t a l ex te rna l r e f l e c t i o n can be caused to occur a t the in te r face. I n t h i s case the penetrat ion i n t o the s u b s t r a t e i s very small (520-30 A i n many ca...
متن کاملA Panoramic Color photographic Image Registration Method
An image registration method for panoramic image generation is described. For the problem, estimation of overlapping regions is essential and the SSD (Summation of Squared Differences) method has been used as a cost function of the optimal problem. But there are some problems in the SSD method. To resolve the problems we propose an image registration method based on the WMDL (Weighted Minimum D...
متن کاملذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: Journal of Physics: Conference Series
سال: 2009
ISSN: 1742-6596
DOI: 10.1088/1742-6596/190/1/012044